O Nike Dunk Low CLOT x Fragment Design “20th Anniversary” celebra duas décadas de inovação e estilo, unindo as visões criativas de Edison Chen (CLOT) e Hiroshi Fujiwara (Fragment Design). Com um design ousado e detalhes exclusivos, este modelo é uma verdadeira obra-prima para os entusiastas de sneakers e cultura urbana.
O cabedal apresenta um tecido de seda branco que pode ser removido, revelando um padrão tonal Silk Royale, uma homenagem à colaboração anterior da CLOT com o Air Force 1. Detalhes como os logotipos CLOT e FRGMT nas linguetas e calcanhares, além do solado de borracha semi-translúcido, completam o visual com autenticidade e estilo.
Ideal para quem busca um tênis que une arte, história e design inovador, o Dunk Low CLOT x Fragment Design é uma escolha certeira para compor looks ousados e autênticos.
